快速读懂电源芯片测试方法与测试流程

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　　电源管理芯片作为电子产品的重要组成部分，其性能测试必不可少。通过各项指标测试，评估电源管理芯片是否符合设计规范，及其稳定性和可靠性。

　　可通过检测以下指标参数来评估电源芯片的性能：
　　输入/出电压范围、输出纹波、电压调整率、负载调整率、反馈端电压；
　　欠压关断及欠压恢复滞后、输入偏置电流、输出电流、输出电流限制；
　　启动过冲及启动延时、负载跃变电压、负载跃变恢复、效率(每路)；
　　效率曲线、工作开关频率测试、SW占空比测试、输入输出信号相位差测试

　　用ATECLOUD测试平台实现电源管理芯片性能的自动化测试，需要以下测试设备：
　　直流电源
　　电子负载
　　示波器
　　万用表
　　ATEBOX（用于程控仪器与流程调动）
　　测试机柜（按需定制）
　　测试线缆：电源线、通讯线、测试线等

　　1. 在测试之前，需要将被测电源芯片、测试仪器、ATEBOX与测试PC正确连接。
　　2. 登录ATECLOUD测试平台，进入“方案运行”，选择已经创建好的测试方案，点击“运行”开始测试。系统通过ATEBOX程控仪器，并且会按照已经创建好的方案流程开始测试。
　　3. 测试过程中，系统会采集测试仪器所测的数据，并将数据、波形图实时展示在系统的测试面板中。测试结束后，系统会以Pass、Fail指标反馈测试结果，自动判别产品是否合格。
　　4. 测试结束后，在记录报告中查看测试详情，选择需要导出的数据和报告模板，导出测试报告。
　　5. 分析电源芯片的测试数据，可在数据洞察界面，用多类型图表展示数据，帮助分析、评估其性能。

　　ATECLOUD测试平台测试电源管理芯片性能，可以满足基本项目测试，快速分析产品性能，帮助电源芯片的优化提升。该系统支持测试数据以word、excel格式导出，可自定义报告模板。其内含的数据洞察功能可以以多种类型的图表直观展示测试数据，便于观察数据变化，为电源芯片的性能分析提供数据支持。